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电子磁性材料Fe3Si 薄膜的研究进展

浏览368次 时间:2017年5月15日 08:58

【关键词】Fe3Si 薄膜 制备方法 研究现状

1 引言

纵观软磁材料的发展历程,关于金属软

磁材料国内外的研究主要在Finement 合金、

Nanoperm 合金和Hitperm 合金软磁材料,它

们具有高的饱和磁化强度、低频段较高的初始

磁导率和低损耗等优点,主要可用于音频、视

频磁头和卡片阅读器磁头等方面。而Fe-Si

料蕴藏丰富、高效环保,已经成为通讯、电力

工业和电子工业中不可或缺的软磁材料。

Fe3Si 薄膜材料具有磁导率高、矫顽力Hc

比较小、饱和磁感应强度Br 高、高频下具有

优异磁性等优点。再着Fe3Si 薄膜具有巨磁阻

的性质,当外磁场作用时,电阻会发生剧烈变

化,有望用于巨磁阻磁头、巨磁阻存储器、各

种磁传感器上。

2 Fe3Si薄膜的制备方法

随着Fe3Si 薄膜制备工艺的不断发展,目

前国内外Fe3Si 薄膜的制备方法主要有分子束

外延法、脉冲激光沉积法、离子束合成法、射

频溅射法等。

3 Fe3Si薄膜的国内外研究现状

3.1 国外研究现状

1993 5 月,H.Liou [1] 开始通过多

腔室分子束外延法在GaAs(001) 衬底上外延生

/高赐国 谢晶 谢泉 刘栋

磁性Fe3Si 薄膜具有高饱和

磁化强度、高磁导率、高自旋极

化率等优越性,在巨磁阻方面和

自旋电子器件中有着广泛应用前

景。本文介绍了目前关于Fe3Si

膜制备的几种主要方法——分子

束外延法、脉冲激光沉积法、离

子束合成法、射频溅射法等。通

过对国内外Fe3Si 薄膜发展现状的

研究,分析了Fe3Si 薄膜的结构、

性能及应用。

摘 要

长超薄Fe3Si 薄膜的研究,制备的薄膜厚度从

2-210 纳米层(ML),膜厚即使薄到2ML

具有铁磁性,当膜厚为10ML-50ML 时,样品

的矫顽力随膜厚的减小逐渐增大,而当膜厚为

2ML-10ML 时,矫顽力变化趋势则表现出相反

特性,且随膜厚增加,其磁滞回线矩形度越好。

2004 6 月,D.Nakagauchi [2] 通过

脉冲激光沉积在硅和石英衬底上生长了铁磁性

Fe3Si 薄膜,当衬底温度为300时,硅和石英

衬底都能很好的生长出单一的多晶Fe3Si 薄膜,

而当衬底温度超过400℃时,硅衬底中的硅会

扩散到薄膜中去,形成Fe3Si FeSi 混合相。

同时还发现Fe3Si 薄膜跟半导体FeSi2 具有相

同的阻值,因此有望应用于多层巨磁电阻方面。

2005 11 月, Kobayashi 等通过分子束

外延法制备了一种Fe3Si/CaF2/Fe3Si 混杂结构,

通常情况下,如果铁和硅直接沉积到衬底硅

上,很难阻止FeSi 相的形成,通过在Fe3Si

Si 衬底之间加一层CaF2,在Fe3Si 生长为温度

400时,证明CaF2 层能够阻止FeSi 相的形成,

同时测得饱和磁化强度和矫顽磁场强度分别为

550 emu/cm3 20 Oe

2007 2 月,Kobayashi 等使用分

子束外延法在CaF2/Si(111) 上外延生长了

Fe3Si(24nm)/CaF2(2nm)/Fe3Si(12nm) 磁性隧道

结结构,研究发现Fe3Si 薄膜的衬底生长温度

80℃时,250℃退火半个小时,得到的薄膜

具有很高平整度。

3.2 国内研究现状

2007 1 月,Fangting Lin [3] 采用脉

冲激光沉积法制备了单一相Fe3Si 薄膜,研究

Fe3Si/Si(100) 异质结的结构有序性和磁学性质,

发现随着衬底温度的增加,Fe3Si 结构从A2

B2 再到稳定DO3 转变;饱和磁化强度随衬底

温度的升高而降低。室温下得到的薄膜饱和磁

化强度为917kAm-1,与块体DO3 Fe3Si

饱和磁化强度相近。

2009 3 月,YingJing 等采用物理气相

冷凝沉积方法制备Fe3Si 纳米粒子,其各向异

性常数K1 估计为8.0×105 ergs/cm3Fe3Si

Heuslar 合金具有相似的性质,具有高极化率,

有望用于自旋电子器件上。

2013 3 月,YingJing 等通过物理气

相沉积法制备了Fe3Si 纳米粒子,发现它有很

高的磁矩和较大的磁各向异性势垒,具有可变

磁场加热效应,合适的工作条件,预计Fe3Si

纳米粒子将能在超过150 Oe 电磁场和100

KHz 频率条件下运行。

4 总结

综上所述,铁磁性Fe3Si 薄膜具有优异的

磁性能,在巨磁阻方面和自旋电子器件中有着

广泛应用前景。通过对Fe3Si 薄膜制备方法和

国内外研究现状的研究和综合分析,对今后

Fe3Si 薄膜的制备和性能研究及应用上有重要

的参考价值和借鉴意义。

(通讯作者:谢泉)

参考文献

[1]S.H.Liou,S.S.Malhotra,and J.X.Shen,

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on GaAs(001),Nebraska 68588-0111.

[ 2 ] D . N a k a g a u c h i , T . Y o s h i t a k e ,

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p r o p e r t i e s o f F e 3 S i / S i ( 1 0 0 )

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作者简介

高赐国(1989-),男,安徽亳州人。现为贵

州大学硕士研究生。主要研究方向为电子功能

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